Hersteller Teilnummer
ScanSta101sm
Hersteller
Texas Instrumente
Einführung
Das ScanSta101SM ist ein spezialisiertes Schnittstellen -IC für Testgeräte, das dem IEEE 1149.1 -Standard entspricht.
Produktfunktionen und Leistung
Unterstützt IEEE 1149.1 Standardschnittstelle
Arbeitet mit einer Versorgungsspannung von 3 V bis 3,6 V.
Oberflächenhalterung 49-LFBGA-Verpackung zur kompakten Integration
Verbessert die Testfähigkeiten von Schaltungsbaugruppen
Ermöglicht diagnostische und debuggierende Funktionen
Produktvorteile
Erleichtert Tests auf Vorstandsebene
Minimiert die Testkomplexität für eingebettete Systeme
Nützlich für Hochvolumenproduktionstestumgebungen
Wichtige technische Parameter
Versorgungsspannung: 3 V bis 3,6 V.
Schnittstelle: IEEE 1149.1
Verpackung: 49-LFBGA
Reittyp: Oberflächenhalterung
Qualitäts- und Sicherheitsmerkmale
Entspricht den Industrie -Teststandards für Sicherheit und Zuverlässigkeit
Hergestellt von Texas Instruments, einem seriösen Anbieter von Halbleiterprodukten
Kompatibilität
Kompatibel mit Systemen und Brettern, die IEEE 1149.1 JTAG -Schnittstelle benötigen
Anwendungsbereiche
In erster Linie für Tests und diagnostische Geräte ausgelegt, die für die elektronische Herstellung und Reparatur verwendet werden
Produktlebenszyklus
Veraltet - Der Teil ist nicht mehr in der Produktion, und der Hersteller kann nur begrenzte Unterstützung bieten
Mögliche Verfügbarkeit von Ersatz- oder Upgrades des Herstellers oder Sekundärmarktes
Mehrere wichtige Gründe, um dieses Produkt auszuwählen
Einfache Integration in Testgeräte
Einhaltung eines weit verbreiteten Branchenstandards (IEEE 1149.1)
Hergestellt von einem bekannten und vertrauenswürdigen Unternehmen
Verbessert die Effizienz und Genauigkeit von Systemtests und Diagnose
Obwohl veraltet, kann aber noch für Geräte bezogen werden, die diesen spezifischen Teil benötigen
SCANPSC110FLMQBTexas InstrumentsIC INTERFACE SPECIALIZED 28CLCC
SCANSTA101BGA